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Gas Sample Dilution Probe SP2000-H/DIL

  

Part No. 20S4002


  • 가스 공정의 샘플링 및 희석에 사용하는 가열 가스 샘플 희석 프로브
  • 표준 희석 비율- 30:1, 선택적 범위-10:1~500:1
  • 희석 가스 예열기가 희석 가스를 샘플 프로브 온도로 예열
  • Critical orifice가 있는 희석 장치는 샘플 프로브의 가열 부분에 위치
  • 샘플 프로브에 테스트 가스 연결
  • 가스 샘플 프로브 SP2000H 기반
  • 스테인리스 스틸 필터 하우징, 마운팅 플랜지 최대 온도 180 °C 까지 가열
  • 2 µm 다공성 세라믹 필터
  • 날씨 변화 보호 커버
  • 설치가 쉬우며 유지 보수 횟수가 낮음
  • 설치 공간을 적게 차지 함
  • 전력: 230V
  • 샘플 접촉 부품 재질: 스테인리스 스틸, 석영 유리, Viton®, 세라믹
  • 옵션: A 세트 추가 정밀 압력 제어기 1개, 진공 압력 게이지2개;제어 패널 S(압력 제어기 1개, 압력 게이지 2개, 유량계 1개, 차단 밸브2개)